PIDcon bifacial 台式潜在诱导退化测试仪

No.PIDcon

特性

根据IEC 62804-TS标准方法
易于使用的台式设备
能够测量c-Si太阳能电池和微型模块
无需气候室
不需要电池层压
测量速度：小时到天
可测量参数：分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度
太阳能电池可以通过EL等进行研究
基于IP的系统允许在世界任何地方进行远程操作和技术支持

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易于使用的台式设备
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太阳能电池可以通过EL等进行研究
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Shanghai Sales + Technical Support + After-sales Service Center
Rayscience Optoelectronic Innovation Co., Ltd
address: 4th Floor, Building 122, Lane 2338, No. 1 Duhui Road, Minhang District, Shanghai
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fax: 021-34635260
E-mail: saleschina@rayscience.com

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product: Materials 3D Real-time Dynamic Microscope MEMS Semiconductor; Zeta-300 Optical Profiler Surface Profile Testing System; LOANA; Minority Carrier Lifetime Tester WCT-120MX; FastEQE High-speed Quantum Efficiency Tester; Minority Carrier Lifetime Tester BCT-400 Testing Silicon Ingot; WCT-120 / 120MX Silicon Wafer Life Tester; Electrochemical ECV doping concentration detection Electrochemical CV distribution instrument (CV tester) Electrochemical CV profile analyzer Electrochemical CV carrier concentration junction depth tester; Contact resistivity and sheet resistance TLM-SCAN+ Multifunctional solar cell grid line contact resistance tester

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