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晶锭检测质量控制
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MDPlinescan 在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测仪
MDPlinescan 在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测仪
在线面扫和单点检测
MDPlinescan是一个易于集成的OEM单元,可集成到各种自动化的检测线。关键的测量参数是实时的载流子寿命扫描。
样品通常由测量头下的传送带或机器人系统来输送。应用实例从晶锭到晶圆的检测,每个晶圆的测量速度小于一秒。
电池生产线上的来料质量检查是最常用的一种应用方向,同样,钝化和扩散后的工艺质量检查也能用到此款产品。
还有许多其他的专门应用可能性。由于其易于集成,只需要以太网连接和电源。
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在线面扫和单点检测
MDPlinescan是一个易于集成的OEM单元,可集成到各种自动化的检测线。关键的测量参数是实时的载流子寿命扫描。
样品通常由测量头下的传送带或机器人系统来输送。应用实例从晶锭到晶圆的检测,每个晶圆的测量速度小于一秒。
电池生产线上的来料质量检查是最常用的一种应用方向,同样,钝化和扩散后的工艺质量检查也能用到此款产品。
还有许多其他的专门应用可能性。由于其易于集成,只需要以太网连接和电源。
特性
允许单片调查
配方的基础测量
监控材料质量、工艺的完整性和稳定性
优势
在µ-PCD或稳态激发条件下测量少数载流子寿命和电阻率是这个工具的重点。
用于集成在生产线的多晶或单晶硅晶圆,包括材料制备,和各种工艺处理阶段。
小尺寸和标准的自动化接口使集成变得容易。优势是长时间的可靠性和测量结果的高精度。
技术参数
样品种类
多晶或单晶晶元片, 晶锭,晶胞
样品尺寸
大约
50 x 50 mm²
电阻率
0.2 - 10³ Ohm cm
电导类型
p, n
材质
硅晶圆,部分或完全加工晶圆,化合物半导体等
测量属性
载流子的少子寿命
硬件接口
ethernet
大小
174 x 107 x 205 mm
, 重量: 3 kg
电源
24 V DC, 2 A
Shanghai Sales + Technical Support + After-sales Service Center
Rayscience Optoelectronic Innovation Co., Ltd
address:
4th Floor, Building 122, Lane 2338, No. 1 Duhui Road, Minhang District, Shanghai
Telephone:
021-34635258 021-34635259
fax:
021-34635260
E-mail:
saleschina@rayscience.com
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